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详细分析台式X射线吸收精细结构谱仪的构成和使用优势

发布时间:2021-10-19浏览:68次
  台式X射线吸收精细结构谱仪采用X射线单色器设计,无需同步辐射光源,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析,提供XAFS和XES两种测量模式,并轻松相互切换。以极高的灵敏度和光源质量,实现对元素的测定、定量和价态分析等。
 
  构成:
  台式X射线吸收精细结构谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分:
  1、入射狭缝:在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。
  2、准直元件:使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上,如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。
  3、色散元件:通常采用光栅,使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。
  4、聚焦元件:聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像,其中每一像点对应于一特定波长。
  5、探测器阵列:放置于焦平面,用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。
 
  产品优势:
  1、无需同步辐射光源;
  2、科研级别谱图效果;
  3、台式设计,实验室内使用;
  4、可外接仪器设备,控制样品条件;
  5、可实现多个样品或多种条件测试;
  6、操作便捷、维护成本低。
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