详细分析台式X射线吸收精细结构谱仪的构成和使用优势

　　台式X射线吸收精细结构谱仪采用X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，提供XAFS和XES两种测量模式，并轻松相互切换。以*的灵敏度和光源质量，实现对元素的测定、定量和价态分析等。

 

　　构成：

　　台式X射线吸收精细结构谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分：

　　1、入射狭缝：在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。

　　2、准直元件：使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。

　　3、色散元件：通常采用光栅，使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。

　　4、聚焦元件：聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像，其中每一像点对应于一特定波长。

　　5、探测器阵列：放置于焦平面，用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。

 

　　产品优势：

　　1、无需同步辐射光源；

　　2、科研级别谱图效果；

　　3、台式设计，实验室内使用；

　　4、可外接仪器设备，控制样品条件；

　　5、可实现多个样品或多种条件测试；

　　6、操作便捷、维护成本低。